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單選題
1、用卡尺測量尺寸時,被測量Y與輸入量X,通過函數(shù)關(guān)系f來表達的數(shù)學(xué)模型為( )。
A.y=f(Xi) B.y=f(X) C.Y=X D.Y=FX
答案:C
解析:函數(shù)關(guān)系式可能非常復(fù)雜,以至于不能明確地表示出來。當(dāng)然,數(shù)學(xué)模型有時也可能簡單到Y(jié)=X。例如:用卡尺測量工件的尺寸,工件的尺寸就等于卡尺的示值。
2、下列關(guān)于測量模型的說法有誤的是( )。
A.測量模型代表了所使用的測量程序和評定方法,它描述如何從輸入量的值求得輸出量的值
B.測量模型,又稱為測量過程的數(shù)學(xué)模型,它不是惟一的,采用不同的測量方法和不同的測量程序,就可能有不同的數(shù)學(xué)模型
C.數(shù)學(xué)模型可用已知的物理公式求得,也可用實驗的方法確定,有時甚至只能用數(shù)值方程給出
D.若數(shù)據(jù)表明,測量模型未能將測量過程模型化至測量所要求的準(zhǔn)確度,則必須在測量模型中減少某些輸入量,即減少影響量
答案:D
解析:如果數(shù)據(jù)表明,函數(shù)關(guān)系式f未能將測量過程模型化至測量所要求的準(zhǔn)確度,說明輸入量不夠,則必須在函數(shù)關(guān)系f中增加其他輸入量,即增加影響量。
3、標(biāo)準(zhǔn)不確定度的A類評定,是通過對觀測列的( )來評定不確定度的方法。
A.數(shù)據(jù)分析 B.系統(tǒng)分析 C.統(tǒng)計分析 D.誤差分析
答案:C
解析:與輸入估計值相關(guān)的測量不確定度,采用“A類”或采用“B類”方法評定。其中,標(biāo)準(zhǔn)不確定度的A類評定是通過對觀測列的統(tǒng)計分析來評定不確定度的方法。此時,標(biāo)準(zhǔn)不確定度為通過求平均程序或適當(dāng)?shù)幕貧w分析求得的平均值的實驗標(biāo)準(zhǔn)差。
4、用千分尺測量某零件長度,經(jīng)16次的重復(fù)測量后計算得到樣本標(biāo)準(zhǔn)差s=0.1Omm。則該測量中的標(biāo)準(zhǔn)不確定度μA的值為( )。
A.0.079 B.0.10 C.0.0025 D.0.025
答案:D
5、校準(zhǔn)證書上指出,標(biāo)稱值為lkg的砝碼的實際質(zhì)量m=1000.00032g,并說明按包含因子k=3的擴展不確定度U=0.24mg,則由該砝碼導(dǎo)致的測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量μ(m)為( )。
A.72μg B.80μg C.83μg D.90μg
答案:B
6、用一臺數(shù)字多用表對生產(chǎn)用lMQ電阻進行測量,評定后UA=0.082kΩ,uB=0.046kQ,取包含因子k=2,那么該數(shù)字多用表的擴展不確定度U為( )。
A.0.188kΩ B.0.192kΩ C.0.19kΩ D.0.18824kΩ
答案:C
7、示波器顯示屏幕的刻度最小為0.2格,當(dāng)靈敏度調(diào)到2mV格時,其分辨力為( )。
A.0.ImV B.0.2mV C.0.4mV D.0.8mV
答案:B
解析:分辨力是指顯示裝置中對其最小示值的辨別能力。模擬式顯示裝置的分辨力通常為標(biāo)尺分度值的一半,即用肉眼可以分辨到一個分度值的1/2。肉眼可觀測到最小刻度的1/2,靈敏度為2mV,其分辨力為2×(0.2/2)=0.2mV。
8、某被檢電壓表的示值為300V時,用標(biāo)準(zhǔn)電壓表測得其電壓的實際值為298V,則被檢電壓表的示值誤差為( )。
A.-2V B.+2V C. 2V D.1-2VI
答案:B
解析:測量儀器的示值誤差是測量儀器示值與對應(yīng)的輸入量的真值之差,它是測量儀器最主要的計量特性之一。題中被檢電壓表的示值誤差△=300-298=2V。
9 、測量儀器的量程是( )兩極限之差的絕對值。
A.標(biāo)稱范圍 B.測量范圍 C.標(biāo)尺范圍 D.工作范圍
答案:A
解析:標(biāo)稱范圍的上限與下限之差的絕對值,稱為量程。測量范圍又稱為工作范圍,是指測量儀器的誤差處于規(guī)定的極限范圍內(nèi)的被測量的示值范圍。
10、型式批準(zhǔn)是由( )做出的承認(rèn)測量儀器的型式符合法定要求的決定。
A.國家法律 B.政府機關(guān) C.政府計量行政部門 D.國家政策
答案:C
解析:型式批準(zhǔn)是由政府計量行政部門做出的承認(rèn)測量儀器的型式符合法定要求的決定。而型式是指某一種測量儀器的樣機及(或)它的技術(shù)文件(如圖紙、設(shè)計資料等),實質(zhì)上就是該種測量儀器的結(jié)構(gòu)、技術(shù)條件和所表現(xiàn)出來的性能。
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(責(zé)任編輯:hbz)
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